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受入検査

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受入検査

サプライヤーから届いた時点で公差外部品を見つけることで、企業は厳密な品質基準を確立・維持できます。総合的な受入検査プロセスを実施することで、公差外部品が組立ラインに届くことを防ぎ、コストがかかるスクラップや再作業が削減できます。

測定アームのようなFAROのポータブル3次元測定器を受入検査プロセスに統合することで、作業者はこれらの部品が仕様書やデザイン要件を満たしているかどうか、迅速かつ効率よく確かめることができます。

夢ある未来を創造する次世代半導体ウェーハ ~φ 450mm ウェーハ用テープフレームのたわみ検証を、FARO Laser ScanArmで実施

電子: SEMI
パソコンや携帯電話などの身近なデジタル家電から、大型タンカーや航空機の精密航法装置に至るまで、今やさまざまなところで半導体が使用されています。これらは、半導体の技術革新によって普及、進歩したといっても過言ではありません。近年、半導体の用途と需要は、ますます広がりを見せています。

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